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奥林巴斯上市近红外显微分光仪USPM-RU-W

奥林巴斯将于2011年8月1日上市近红外显微分光测量仪“USPM-RU-W”。能够测量从可见光区到近红外区（380n～1050nm）广泛波长的反射率，标配有测定物体颜色和测量多层膜厚的功能。

显微分光测量仪用于评估镜头等光学元件的涂层及测量电子基板上微细区域的反射率和膜厚等。USPM-RU-W不仅能够测量反射率等，如增加选配件，还能测量透射率和45°反射率。采用该分光仪的专用物镜，不仅可测量平面，还可测量球面及包括曲面等在内的直径17μ～70μm的微小领域。因可同时对所有波长分光，可快速测量，所以工作效率比原来的分光光度计更为出色。价格为930万日元起。

据奥林巴斯介绍，近年数字单反相机用可更换镜头和红外相机用镜头要求的精度越来越高，且随着袖珍数码相机及手机使用的镜头的小型及薄型化，品质评估的测量也要求高精度和多样化。USPM-RU-W就是为满足上述需求而开发的。（记者：吉田胜）

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